Agilent Medalist i3070
- 產(chǎn)品名稱:Agilent Medalist i3070
- 產(chǎn)品型號:hp3070/i3070/agilent3070
- 產(chǎn)品廠商:agilent
- 產(chǎn)品文檔:
Agilent Medalist i3070
的詳細(xì)介紹描述
Agilent Medalist i3070 5 系統(tǒng)不僅提供在線測試能力而且還具有其他測試功能,可對 PCBA 進(jìn)行*廣泛的測試,因而能夠滿足大多數(shù)主流電子產(chǎn)品制造商的需求。對于那些需要更少節(jié)點(diǎn)測試功能的客戶來說,i3070 雙模塊選件是理想的選擇。
所有Agilent Medalist i3070 系列 5 測試系統(tǒng)均加入了新的基礎(chǔ)架構(gòu),以便更加靈活地添加、控制和連接外部電子設(shè)備或儀器。該系統(tǒng)允許將外部電子設(shè)備插入測試機(jī)臺,如同該設(shè)備已經(jīng)集成到系統(tǒng)中。外部電子設(shè)備可以是功能性測試電路,用于為 ICT 提供額外的功能測試范圍,或者為被測單元提供額外的激勵,以提高測試覆蓋率。外部電子設(shè)備控制、測試順序和測試結(jié)果仍通過 BT-BASIC 測試程序來實(shí)現(xiàn),由用戶熟悉的測試機(jī)臺的電腦實(shí)施。
為了支持增強(qiáng)的性能,PCBA 如今擁有更高的電流要求,因此可通過測試儀向被測單元送入 10 A 的電流。電源端口也可經(jīng)過多路復(fù)用處理,所以一個電源可以*多向一個面板中不同的 6 個電路板供電,每個電源通道都由一個繼電器控制,以保護(hù)被測單元。
i3070 系列 5 測試系統(tǒng)包含了一個新的模擬激勵和測量單元(ASRU),可將模擬測試速度提高 20%,進(jìn)而提高產(chǎn)量。
此前版本中的受限接入測試工具也包含在該測試系統(tǒng)中。
如果您的大型電路板需要速度更快,測試覆蓋率更高的測試,那么,E9903E i307x 系列 5 系統(tǒng)將是*佳選擇。
所有 Agilent Medalist i3070 測試系統(tǒng)都支持多路復(fù)用(Mux)pin卡和非多路復(fù)用(UnMux)pin卡。這樣,在您使用該系統(tǒng)時就會有更多的靈活性。
特性 | Analog Plus (Mux) | Access Plus (Mux) | Hybrid Plus (Mux) | Hybrid 144 (Unmux) |
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每個pin卡的測試節(jié)點(diǎn) | 144 | 8 x 高頻率 10:28 儀器端口 24 x 通用繼電器 | 144 | 144 |
每個pin卡的數(shù)字通道 | 無 | 無 | 16 | 144 |
*大數(shù)字向量執(zhí)行速率/頻率 | 無 |
高頻:100MHz 儀器端口:25MHz 通用繼電器:無 |
6/12/20 MPS | 6 MPS |
每個模塊/系統(tǒng)的*大pin卡數(shù)** | 9/18 | 9/18 | 9/18 | 9/18 |
模擬電壓范圍 | 0-100V | 0-100V | 0-100V | 0-100V |
數(shù)字驅(qū)動/接收范圍 | 無 | 無 | -3.5 至 5.0V | 0 至 4.75V |
數(shù)字測試的向量周期精度 | 無 | 無 | +/- 10 nS | +/- 10 nS |